Chroma 3240-Q 無線射頻分類機也可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動送料/分料盤設(shè)計, 3240-Q適 用于JEDEC和EIA料盤規(guī)范,。另有選配的加強溫控的測試能力, 可提供高達150℃之高溫測試環(huán)境,。是一臺創(chuàng)新、整合了射頻和無線隔離室之自動分類機,。此機臺配置多達八個測試 站點和獨立的隔離作平行測試,。 3240-Q具有順暢的自動化測試,、精確的Pick & Place技術(shù),、彈 性的多測點架構(gòu),、高產(chǎn)能和低Jam Rate等優(yōu)勢，適用于射頻和無線晶片測試,。

Chroma 3240-Q 無線射頻分類機的特色：

• 符合成本效益的RF整合方案
• 客制RF隔離室和整合Tester安裝
• 可調(diào)整測試間距至120mm
• 具有八個平行測試站點
• 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm
• 精確的定位能力
• 支援JEDEC和EIA料盤